Plocha pod krivkou (AUC)
Plocha pod krivkou (AUC) je základná metrika v strojovom učení, ktorá sa používa na hodnotenie výkonnosti binárnych klasifikačných modelov. Kvantifikuje celkovú schopnosť modelu rozlišovať medzi pozitívnymi a negatívnymi triedami výpočtom plochy pod krivkou ROC (Receiver Operating Characteristic).